產(chǎn)品介紹

 NIST SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅（標(biāo)稱質(zhì)量分?jǐn)?shù) 2.2 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。特別是，它旨在用于需要相對較高質(zhì)量分?jǐn)?shù)和需要校準(zhǔn)的基于電聲的方法。

一個(gè) SRM 1993 由兩個(gè)預(yù)先劃線的安瓿組成，每個(gè)安瓿含有大約 25 mL 的膠體二氧化硅懸浮液，在 pH 8.9 的硼酸鹽緩沖液中。該材料由歐盟委員會(huì)聯(lián)合研究中心 (JRC) 和 NIST 聯(lián)合生產(chǎn)。 SRM 1993 實(shí)質(zhì)上與 JRC ERM-FD306 相同。 NIST 特別出版物 260-209 [1] 中提供了有關(guān) SRM 1993 的生產(chǎn)和表征的詳細(xì)信息。

認(rèn)證值：

認(rèn)證值是當(dāng)前對真實(shí)值的最佳估計(jì) [2]。下面報(bào)告的認(rèn)證值基于在 NIST、JRC 和附錄 B 中列出的合格合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的測量，并代表基于電泳光散射技術(shù)的可接受數(shù)據(jù)集均值的未加權(quán)平均值；每組都是在不同的實(shí)驗(yàn)室或用不同的測定方法獲得的。這些值可追溯到國際單位制 (SI) [1]。這些值是在收到的基礎(chǔ)上報(bào)告的。

非認(rèn)證值：非認(rèn)證值在附錄 A 中提供。

有效期： NIST SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅 提供的認(rèn)證值在規(guī)定的測量不確定度范圍內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中的說明處理和存儲(chǔ) SRM。 不需要對此 SRM 進(jìn)行定期重新認(rèn)證。 如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無效。

安全：請參閱安全數(shù)據(jù)表。

儲(chǔ)存：SRM 1993 原裝未開封的安瓿應(yīng)在室溫（20 °C ± 5 °C）下儲(chǔ)存。SRM 1993 不得承受冷凍溫度，因?yàn)檫@會(huì)不可逆轉(zhuǎn)地?fù)p害材料的完整性。

處理和使用： NIST SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅一種密封在玻璃安瓿中的膠體懸浮液。處理這些安瓿時(shí)要小心謹(jǐn)慎，以免破損。打開前，應(yīng)輕輕倒置安瓿幾次，以確保懸浮液的均勻性并重新懸浮任何沉淀的顆粒。用食指輕輕輕彈錐形部分，同時(shí)去除殘留在安瓿上部（錐形頂部）的任何懸浮液傾斜安瓿。安瓿已預(yù)先刻痕，可以通過用拇指輕輕按壓以折斷錐形部分來打開。安瓿的內(nèi)容物應(yīng)在打開的同一天使用，并應(yīng)在每次測量前輕輕均質(zhì)，不要引入氣泡。 SRM 1993 開封后的穩(wěn)定性尚未評估，因此長時(shí)間重復(fù)使用該材料由用戶負(fù)責(zé)。對于電泳光散射和電聲方法，SRM 1993 的等分試樣應(yīng)按原樣測量，即未經(jīng)稀釋。對于小于認(rèn)證研究中使用的樣本量，尚未評估材料的均勻性。因此，認(rèn)證值可能不適用于小于 200 μL 的測試量。

測量溫度為 25 °C ± 0.2 °C。用于分散介質(zhì)（水）在 25 °C 下的粘度和折射率的值分別為 0.89 mPa·s 和 1.332。如果不是在 25°C 下進(jìn)行測試，則必須調(diào)整粘度值。該材料可用作電聲方法的校準(zhǔn)品；在估計(jì)測量不確定度時(shí)應(yīng)考慮認(rèn)證值的不確定度。

生產(chǎn)信息：與此 SRM 的開發(fā)和生產(chǎn)相關(guān)的所有活動(dòng)均與 JRC 理事會(huì) F – 健康、消費(fèi)者和參考材料（比利時(shí)吉爾）共同開展。合作實(shí)驗(yàn)室列于附錄 B。